BJX-2000現(xiàn)場(chǎng)金相顯微鏡,適用于大型工件的現(xiàn)場(chǎng)金相檢驗(yàn)與失效分析。不用切割取樣,直接在工件上研磨制樣、觀察、照像。對(duì)工件尤其是成品件不產(chǎn)生損傷。提高金屬檢驗(yàn)效率、完善工廠產(chǎn)品質(zhì)量控制。同時(shí)也可用于實(shí)驗(yàn)室金相觀察。
詳細(xì)研究級(jí)電動(dòng)12寸大平臺(tái)半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD,粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù),集明場(chǎng),暗場(chǎng)及偏光等多種照明方式,任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像,其微分干涉效果可與進(jìn)口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇,是工業(yè)檢測(cè)的有效工具。機(jī)器采用電動(dòng)轉(zhuǎn)換器,物理按鈕和軟件雙控,進(jìn)行遠(yuǎn)位數(shù)調(diào)節(jié),12寸大工作平臺(tái)特別是針對(duì)線路板切片測(cè)量,晶圓檢測(cè),金相材料,高分子材料等尺寸較大的樣器進(jìn)行分析檢測(cè),本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測(cè),在半導(dǎo)體和PCB檢測(cè)中,可消除雜光,細(xì)節(jié)更加清晰。同時(shí)可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡,可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果,大幅提高圖像對(duì)比度,特別適合觀察導(dǎo)電粒子。
詳細(xì)研究級(jí)12寸大平臺(tái)半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD,粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù),集明場(chǎng),暗場(chǎng)及偏光等多種照明方式,任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像,其微分干涉效果可與進(jìn)口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇,是工業(yè)檢測(cè)的有效工具。特別是針對(duì)線路板切片測(cè)量,晶圓檢測(cè),金相材料,高分子材料等尺寸較大的樣器進(jìn)行分析檢測(cè),本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測(cè),在半導(dǎo)體和PCB檢測(cè)中,可消除雜光,細(xì)節(jié)更加清晰。同時(shí)可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡,可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果,大幅提高圖像對(duì)比度,特別適合觀察導(dǎo)電粒子。
詳細(xì)POL1510主要針對(duì)不透明晶體進(jìn)行觀察的偏光顯微鏡,此系列偏光顯微鏡是利用晶體具有光學(xué)各向異性,但光線照射這些不透明晶體時(shí)會(huì)發(fā)生雙折射現(xiàn)象的原理而研發(fā)的一款顯微鏡。
詳細(xì)POL1520是利用晶體具有光學(xué)各向異性,光線透過(guò)這些透明晶體時(shí)會(huì)發(fā)生雙折射現(xiàn)象的原理而研發(fā)的一款顯微鏡,主要用于對(duì)各種透明的晶體、巖石、礦物以及具有雙折射的物質(zhì)進(jìn)行觀察和鑒定,是藥理學(xué)、地質(zhì)學(xué)和機(jī)械、冶金等部門用來(lái)研究結(jié)晶、礦物、巖石和金相組織的重要工具。
詳細(xì)POL1810采用優(yōu)質(zhì)的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)和透反射兩套照明系統(tǒng),既可以觀察透明的物體,也可以觀察不透明度物體。配置有石膏入試片、云母1/4入試片、石英楔子等附件,是一組具有完備功能和良好品質(zhì)的偏光顯微鏡。
詳細(xì)VMB3200A三目多功能透反射生物顯微鏡配置了落射照明裝置,既可以觀察透明的生物標(biāo)本,也可以觀察半透明,甚至不透明物體。采用平場(chǎng)消色差物鏡和大視野目鏡內(nèi)置偏光觀察裝置,可做偏光觀察。具有成像清晰,視野廣闊,操作方便等特點(diǎn)。
詳細(xì)VMF200I由倒置生物顯微系統(tǒng)與落射熒光顯微系統(tǒng)組成,配置長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)物鏡與大視野目鏡。旋轉(zhuǎn)擺入擺出式聚光系統(tǒng)工作距離長(zhǎng),可對(duì)高培養(yǎng)皿或圓筒狀燒瓶進(jìn)行無(wú)沾染培養(yǎng)細(xì)胞觀察,也可以進(jìn)行相襯觀察。
詳細(xì)