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CM120BD-AF研究級電動12寸大平臺半導(dǎo)體芯片晶圓LCD檢查金相顯微鏡
研究級電動12寸大平臺半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD，粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù)，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，其微分干涉效果可與進(jìn)口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。機(jī)器采用電動轉(zhuǎn)換器，物理按鈕和軟件雙控，進(jìn)行遠(yuǎn)位數(shù)調(diào)節(jié)，12寸大工作平臺特別是針對線路板切片測量，晶圓檢測，金相材料，高分子材料等尺寸較大的樣器進(jìn)行分析檢測，本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測，在半導(dǎo)體和PCB檢測中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更加清晰。同時可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡，可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導(dǎo)電粒子。
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CM120BD研究級12寸大平臺金相顯微鏡硅片半導(dǎo)體檢測
研究級12寸大平臺半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD，粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù)，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，其微分干涉效果可與進(jìn)口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。特別是針對線路板切片測量，晶圓檢測，金相材料，高分子材料等尺寸較大的樣器進(jìn)行分析檢測，本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測，在半導(dǎo)體和PCB檢測中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更加清晰。同時可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡，可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導(dǎo)電粒子。
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VMF200I 科研用三目倒置熒光顯微鏡
VMF200I由倒置生物顯微系統(tǒng)與落射熒光顯微系統(tǒng)組成，配置長工作距離平場物鏡與大視野目鏡。旋轉(zhuǎn)擺入擺出式聚光系統(tǒng)工作距離長，可對高培養(yǎng)皿或圓筒狀燒瓶進(jìn)行無沾染培養(yǎng)細(xì)胞觀察，也可以進(jìn)行相襯觀察。
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VMB3200A 多功能透反射生物顯微鏡(配備落射照明裝置)
VMB3200A三目多功能透反射生物顯微鏡配置了落射照明裝置，既可以觀察透明的生物標(biāo)本，也可以觀察半透明，甚至不透明物體。采用平場消色差物鏡和大視野目鏡內(nèi)置偏光觀察裝置，可做偏光觀察。具有成像清晰，視野廣闊，操作方便等特點(diǎn)。
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