VM2200M適用于對不透明物體進(jìn)行顯微觀察,本儀器配置落射照明器、長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)、大視野目鏡和內(nèi)置偏光觀察裝置,具有圖像清晰、襯度好,操作方便等特點,是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。
詳細(xì)VM5000M適用于對工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進(jìn)行顯微觀察。采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)。儀器配有偏光裝置可實現(xiàn)普通與偏光觀察的自由切換,模塊化功能設(shè)計理念,可方便升級系統(tǒng)進(jìn)行暗場觀察等功能。
詳細(xì)VMF400I采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),配置長工作距離平場物鏡與大視野目鏡。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體,充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。旋轉(zhuǎn)擺入擺出式聚光系統(tǒng),可對高培養(yǎng)皿或圓筒狀燒瓶進(jìn)行無沾染培養(yǎng)細(xì)胞觀察。
詳細(xì)VMF200I由倒置生物顯微系統(tǒng)與落射熒光顯微系統(tǒng)組成,配置長工作距離平場物鏡與大視野目鏡。旋轉(zhuǎn)擺入擺出式聚光系統(tǒng)工作距離長,可對高培養(yǎng)皿或圓筒狀燒瓶進(jìn)行無沾染培養(yǎng)細(xì)胞觀察,也可以進(jìn)行相襯觀察。
詳細(xì)VMF32A適用于熒光顯微觀察和透射明視場觀察,采用無放大率色差的無限遠(yuǎn)平場消色差熒光物鏡和大視野目鏡,光學(xué)系統(tǒng)成像清晰、明亮,視野廣闊。符合人機(jī)工程學(xué)要求的機(jī)體設(shè)計,使您在操作過程中更加舒適與輕松。是生物學(xué)、細(xì)胞學(xué)、腫瘤學(xué)、遺傳學(xué)、免疫學(xué)、改性瀝青、材料科學(xué)等研究工作的理想儀器。
詳細(xì)VMF30A可用于落射熒光顯微觀察和透射明視場觀察,采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計理念,可提供卓越的光學(xué)品質(zhì)與操作性能,配置無放大率色差的無限遠(yuǎn)平場消色差熒光物鏡和大視野目鏡,光學(xué)系統(tǒng)成像清晰、明亮,視野廣闊。
詳細(xì)VMF20A適用于熒光顯微觀察和透射明視場觀察,可以清晰地觀察和鑒定用普通顯微鏡難以觀察到染色體標(biāo)本,是生物學(xué)、細(xì)胞學(xué)、腫瘤學(xué)、遺傳學(xué)、免疫學(xué)、改性瀝青、材料科學(xué)等研究工作的理想儀器??晒┛蒲?、高校、醫(yī)療和防疫等部門使用。
詳細(xì)VMB3200A三目多功能透反射生物顯微鏡配置了落射照明裝置,既可以觀察透明的生物標(biāo)本,也可以觀察半透明,甚至不透明物體。采用平場消色差物鏡和大視野目鏡內(nèi)置偏光觀察裝置,可做偏光觀察。具有成像清晰,視野廣闊,操作方便等特點。
詳細(xì)VM4800M 采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計理念,可以方便升級系統(tǒng),儀器配有偏光裝置可實現(xiàn)偏光觀察同時可選配暗裝置及微分干涉裝置。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別,電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學(xué)顆粒的分析研究。是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。
詳細(xì)VM4600M 三目正置大平臺金相顯微鏡配有大范圍移動的載物臺、柯拉落射照明系統(tǒng)、長距平場物鏡、大視野目鏡,圖像清晰、襯度好,同時配有偏光裝置,可實現(xiàn)偏光觀察。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別,電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性
詳細(xì)VM4000M采用優(yōu)質(zhì)的無限遠(yuǎn)光路系統(tǒng),配置了落射與透射照明系統(tǒng)、無限遠(yuǎn)長距平場消色差物鏡、內(nèi)置偏光觀察裝置,具有圖像清晰、襯度好,造型美觀,操作方便等特點,能分別對不透明物體或透明物體進(jìn)行顯微觀察,尤其適合觀察金相組織分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織觀察材料表面。
詳細(xì)VM3000I 三目倒置金相顯微鏡采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與多功能、模塊化的設(shè)計理念,儀器帶有偏光裝置,并可選配暗場裝置、DIC微分干涉裝置實現(xiàn)暗場和微分干涉等特殊觀察。
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