金相顯微鏡

按分類:: 全部金相顯微鏡體視顯微鏡測(cè)量顯微鏡生物顯微鏡熒光顯微鏡偏光顯微鏡比較顯微鏡數(shù)碼顯微鏡顯微鏡附件
固有觀察方式:: 全部偏光相襯微分干涉差明場(chǎng) 暗場(chǎng) 熒光
照明方式:: 全部透射反射透射+反射
光學(xué)系統(tǒng):: 全部有限遠(yuǎn) 無(wú)限遠(yuǎn)
觀察頭:: 全部單目雙目三目數(shù)字通道
結(jié)構(gòu):: 全部正置倒置
用途:: 全部工業(yè)生產(chǎn)/檢測(cè)/維修學(xué)校/教學(xué) 醫(yī)院/臨床家用/愛(ài)好者科研/實(shí)驗(yàn)室農(nóng)林業(yè)/養(yǎng)殖業(yè) 品質(zhì)檢驗(yàn)/鑒定

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VM2400I編碼型倒置金相顯微鏡帶亮度記憶

三目倒置編碼金相顯微鏡VM2400I配置長(zhǎng)距明場(chǎng)平場(chǎng)消色差物鏡與大視野平場(chǎng)目鏡，照明系統(tǒng)采用LED照明方式，視場(chǎng)照明均勻。主要用于鑒定和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，或用于觀察材料表面的某些特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等，簡(jiǎn)單便于理解操作。應(yīng)用在工廠、實(shí)驗(yàn)室和教學(xué)及科學(xué)領(lǐng)域，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)研究的理想儀器?？捎^察5公斤以下不規(guī)則樣品或者大體積高度樣品，可選配數(shù)碼相機(jī)成像、可與金相分析軟件配合根據(jù)試樣特性國(guó)標(biāo)出金相分析報(bào)告。

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CM120BD-AF研究級(jí)電動(dòng)12寸大平臺(tái)半導(dǎo)體芯片晶圓LCD檢查金相顯微鏡

研究級(jí)電動(dòng)12寸大平臺(tái)半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD，粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù)，集明場(chǎng)，暗場(chǎng)及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，其微分干涉效果可與進(jìn)口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇，是工業(yè)檢測(cè)的有效工具。機(jī)器采用電動(dòng)轉(zhuǎn)換器，物理按鈕和軟件雙控，進(jìn)行遠(yuǎn)位數(shù)調(diào)節(jié)，12寸大工作平臺(tái)特別是針對(duì)線路板切片測(cè)量，晶圓檢測(cè)，金相材料，高分子材料等尺寸較大的樣器進(jìn)行分析檢測(cè)，本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測(cè)，在半導(dǎo)體和PCB檢測(cè)中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更加清晰。同時(shí)可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡，可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對(duì)比度，特別適合觀察導(dǎo)電粒子。

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CM120BD研究級(jí)12寸大平臺(tái)金相顯微鏡硅片半導(dǎo)體檢測(cè)

研究級(jí)12寸大平臺(tái)半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD，粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù)，集明場(chǎng)，暗場(chǎng)及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，其微分干涉效果可與進(jìn)口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇，是工業(yè)檢測(cè)的有效工具。特別是針對(duì)線路板切片測(cè)量，晶圓檢測(cè)，金相材料，高分子材料等尺寸較大的樣器進(jìn)行分析檢測(cè)，本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測(cè)，在半導(dǎo)體和PCB檢測(cè)中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更加清晰。同時(shí)可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡，可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對(duì)比度，特別適合觀察導(dǎo)電粒子。

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VM3600I科研級(jí)倒置金相顯微鏡帶液晶屏幕

科研級(jí)三目倒置金相顯微鏡VM3600I采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)半復(fù)消色差光學(xué)系統(tǒng)60mm多功能、模塊化的設(shè)計(jì)理念，帶有偏光裝置，并可選配暗場(chǎng)裝置、DIC微分干涉裝置實(shí)現(xiàn)暗場(chǎng)和微分干涉等特殊觀察。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微鏡操作的防振要求。

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CM80BD-AF電動(dòng)研究級(jí)金相顯微鏡晶圓檢測(cè)半導(dǎo)體FPD檢查

電動(dòng)研究級(jí)材料檢測(cè)顯微鏡CM80BD-AF采用全新半復(fù)消技術(shù)，集明場(chǎng)，暗場(chǎng)及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，或根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇，是工業(yè)檢測(cè)的有效工具。機(jī)器采用電動(dòng)轉(zhuǎn)換器，物理按鈕和軟件雙控，進(jìn)行遠(yuǎn)位數(shù)調(diào)節(jié)。8寸大平臺(tái)特別是針對(duì)大尺寸的半導(dǎo)體FPD檢查，線路板切片測(cè)量，晶圓檢測(cè)同時(shí)該產(chǎn)品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測(cè)，本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測(cè)，在半導(dǎo)體和PCB檢測(cè)中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更加清晰。360度旋轉(zhuǎn)式檢偏器可以在不移動(dòng)標(biāo)本的情況下，方便的觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài).同時(shí)可以在在正交偏光的基礎(chǔ)上，插入DlC棱鏡，可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對(duì)比度，特別適合觀察導(dǎo)電粒子。

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CM60BD研究級(jí)金相材料檢測(cè)顯微鏡

研究級(jí)材料檢測(cè)顯微鏡CM60BD采用全新半復(fù)消技術(shù)，集明場(chǎng)，暗場(chǎng)及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，或根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇，是工業(yè)檢測(cè)的有效工具。配有6寸大平臺(tái)特別是針對(duì)大尺寸的半導(dǎo)體FPD檢查，線路板切片測(cè)量，晶圓檢測(cè)同時(shí)該產(chǎn)品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測(cè)，本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測(cè)，在半導(dǎo)體和PCB檢測(cè)中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更加清晰。360度旋轉(zhuǎn)式檢偏器可以在不移動(dòng)標(biāo)本的情況下，方便的觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài).同時(shí)可以在在正交偏光的基礎(chǔ)上，插入DlC棱鏡，可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對(duì)比度，特別適合觀察導(dǎo)電粒子。

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VM2500M三目透反射正置金相顯微鏡

三目透反射正置金相顯微鏡VM2500M配置了透射、落射照明裝置，既可以觀察金屬材料的金相組織結(jié)構(gòu)，也可以觀察半透明，甚至不透明的生物標(biāo)本。采用了無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)工作距平場(chǎng)消色差金相物鏡和大視野目鏡，具有成像清晰，視野廣闊，操作方便等特點(diǎn)。是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。

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MX8R系列DIC微分干涉金相顯微鏡工業(yè)檢測(cè)顯微鏡

MX8R三目明暗場(chǎng)微分干涉工業(yè)檢測(cè)顯微鏡配置了落射與透射照明系統(tǒng)、明暗場(chǎng)半復(fù)消金相物鏡、內(nèi)置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點(diǎn)，配備了高性能DIC組件，可以將明場(chǎng)觀察下無(wú)法檢測(cè)的細(xì)微高低差，轉(zhuǎn)化為高對(duì)比度的明暗差并以立體浮雕新式表現(xiàn)出來(lái)，廣泛用于LCD導(dǎo)電粒子，精密磁盤表面劃痕檢測(cè)等領(lǐng)域

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VM2200M 三目電腦型正置金相顯微鏡

VM2200M適用于對(duì)不透明物體進(jìn)行顯微觀察，本儀器配置落射照明器、長(zhǎng)距平場(chǎng)消色差物鏡(無(wú)蓋玻片)、大視野目鏡和內(nèi)置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，操作方便等特點(diǎn)，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。

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VM5000M 工業(yè)檢測(cè)顯微鏡

VM5000M適用于對(duì)工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進(jìn)行顯微觀察。采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)。儀器配有偏光裝置可實(shí)現(xiàn)普通與偏光觀察的自由切換，模塊化功能設(shè)計(jì)理念，可方便升級(jí)系統(tǒng)進(jìn)行暗場(chǎng)觀察等功能。

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VM4800M 大平臺(tái)金相顯微鏡

VM4800M 采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念，可以方便升級(jí)系統(tǒng)，儀器配有偏光裝置可實(shí)現(xiàn)偏光觀察同時(shí)可選配暗裝置及微分干涉裝置。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別，電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學(xué)顆粒的分析研究。是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。

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VM4600M 大平臺(tái)金相顯微鏡

VM4600M 三目正置大平臺(tái)金相顯微鏡配有大范圍移動(dòng)的載物臺(tái)、柯拉落射照明系統(tǒng)、長(zhǎng)距平場(chǎng)物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時(shí)配有偏光裝置，可實(shí)現(xiàn)偏光觀察。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別，電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性

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