- 歡迎索取產(chǎn)品冊
- 微視界品牌直供
- 4000-135-686
查找屬于您的產(chǎn)品
CM80BD-AF電動研究級金相顯微鏡晶圓檢測半導體FPD檢查
電動研究級材料檢測顯微鏡CM80BD-AF采用全新半復消技術(shù)，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，或根據(jù)實際應用進行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。機器采用電動轉(zhuǎn)換器，物理按鈕和軟件雙控，進行遠位數(shù)調(diào)節(jié)。8寸大平臺特別是針對大尺寸的半導體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時該產(chǎn)品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機配備了偏振系統(tǒng)包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節(jié)更加清晰。360度旋轉(zhuǎn)式檢偏器可以在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài).同時可以在在正交偏光的基礎(chǔ)上，插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導電粒子。
詳細
CM60BD研究級金相材料檢測顯微鏡
研究級材料檢測顯微鏡CM60BD采用全新半復消技術(shù)，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，或根據(jù)實際應用進行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。配有6寸大平臺特別是針對大尺寸的半導體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時該產(chǎn)品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機配備了偏振系統(tǒng)包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節(jié)更加清晰。360度旋轉(zhuǎn)式檢偏器可以在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài).同時可以在在正交偏光的基礎(chǔ)上，插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導電粒子。
詳細
VM2500M三目透反射正置金相顯微鏡
三目透反射正置金相顯微鏡VM2500M配置了透射、落射照明裝置，既可以觀察金屬材料的金相組織結(jié)構(gòu)，也可以觀察半透明，甚至不透明的生物標本。采用了無限遠長工作距平場消色差金相物鏡和大視野目鏡，具有成像清晰，視野廣闊，操作方便等特點。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。
詳細
MX8R系列DIC微分干涉金相顯微鏡工業(yè)檢測顯微鏡
MX8R三目明暗場微分干涉工業(yè)檢測顯微鏡配置了落射與透射照明系統(tǒng)、明暗場半復消金相物鏡、內(nèi)置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點，配備了高性能DIC組件，可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差，轉(zhuǎn)化為高對比度的明暗差并以立體浮雕新式表現(xiàn)出來，廣泛用于LCD導電粒子，精密磁盤表面劃痕檢測等領(lǐng)域
詳細
VM4000M 透反射型三目金相顯微鏡
VM4000M采用優(yōu)質(zhì)的無限遠光路系統(tǒng)，配置了落射與透射照明系統(tǒng)、無限遠長距平場消色差物鏡、內(nèi)置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點，能分別對不透明物體或透明物體進行顯微觀察，尤其適合觀察金相組織分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織觀察材料表面。
詳細
VM2300M 帶透反射光源的正置金相顯微鏡
VM2300M 三目透反射金相顯微鏡配置了透射、落射照明裝置，既可以觀察金屬材料的金相組織結(jié)構(gòu)，也可以觀察半透明，以及不透明的生物標本。采用了平場消色差物鏡和大視野目鏡，具有成像清晰，視野廣闊，操作方便等特點。
詳細