VMS260配備了高眼點(diǎn)大視野目鏡,物鏡可連續(xù)變倍。具有視場寬廣,分辨率高,立體感強(qiáng),成像清晰等特點(diǎn)。廣泛用于教學(xué)示范、生物解剖、農(nóng)林業(yè)的種子檢查篩選、公安部門的刑偵檢測,電子精密部件裝配檢修,紡織業(yè)的品質(zhì)控制、文物 郵票的輔助鑒別及各種物質(zhì)表面觀察。
詳細(xì)VMS220雙目連續(xù)變倍體視顯微鏡配置了高眼點(diǎn)大視野目鏡,物鏡可連續(xù)變倍。具有視場寬廣,分辨率高,立體感強(qiáng),成像清晰等特點(diǎn)。廣泛用于教學(xué)示范、生物解剖、農(nóng)林業(yè)的種子檢查篩選、公安部門的刑偵檢測,電子精密部件裝配檢修,紡織業(yè)的品質(zhì)控制、文物 郵票的輔助鑒別及各種物質(zhì)表面觀察。
詳細(xì)VMS165配有萬向支架,可擴(kuò)大操作范圍,任意方向任意角度觀察物體。該顯微鏡具有視場寬,分辨率高,立體感強(qiáng)等特點(diǎn),可連續(xù)變倍。廣泛用于電子精密部件裝配檢修、教學(xué)示范、生物解剖、醫(yī)學(xué)手術(shù)實(shí)驗(yàn)、文物郵票輔助鑒別及各種物質(zhì)表面觀察等。
詳細(xì)VMS155雙目萬向連續(xù)變倍體視顯微鏡配有萬向支架,可擴(kuò)大操作范圍,任意方向任意角度觀察物體觀察不受限制,具有高分辨率,高清晰度和強(qiáng)立體感等特點(diǎn)。廣泛用于教學(xué)示范、醫(yī)學(xué)手術(shù)、生物解剖、種子檢查篩選、刑偵檢測、電子精密部件裝配檢修、紡織業(yè)的品質(zhì)控制、文物郵票的輔助鑒別及各種物質(zhì)表面觀察。
詳細(xì)VMS136配置了高眼點(diǎn)大視野目鏡,物鏡可連續(xù)變倍。具有視場寬廣,分辨率高,立體感強(qiáng),成像清晰等特點(diǎn)。
詳細(xì)VMS135雙目連續(xù)變倍體視顯微鏡采用LED上下光源,具有高分辨率,高清晰度和強(qiáng)立體感等特點(diǎn),并且可連續(xù)變倍。光學(xué)系統(tǒng)左右光路分開,轉(zhuǎn)像棱鏡使物體成正像,符合人的生理習(xí)慣。
詳細(xì)VMS105 配備優(yōu)質(zhì)的光學(xué)系統(tǒng)和耐用可靠的操作機(jī)構(gòu)。該機(jī)型工作距離長,視野清晰范圍大,附件齊全操作方便??蓮V泛應(yīng)用于醫(yī)療衛(wèi)生,農(nóng)林地質(zhì),電子精密機(jī)械等行業(yè)和部門,特別適合于LED、PCB檢驗(yàn)、沖壓電鍍檢驗(yàn)、電子元件檢驗(yàn)等等。
詳細(xì)VMS100配有大視場目鏡,立體感強(qiáng)。定檔定倍,放大倍數(shù)可自行選擇,超長的工作距離達(dá)140mm,為使用者提供更大的工作空間,使用高眼點(diǎn)廣角目鏡,為佩戴眼睛的觀察者提供方便。
詳細(xì)VMB2000A配置平場消色差物鏡和大視野目鏡,具有成像清晰,視野廣闊,操作方便等特點(diǎn),可廣泛應(yīng)用于教學(xué)實(shí)驗(yàn),醫(yī)院常規(guī)化驗(yàn),農(nóng)、林、漁、養(yǎng)殖業(yè),生物細(xì)菌觀察以及各類纖維,粉末顆粒, 液體中各類微小物體,管材炭黑,化工化妝產(chǎn)品等觀察使用,是科研、醫(yī)學(xué)、工業(yè)、農(nóng)業(yè)等領(lǐng)域理想儀器。
詳細(xì)VM1000I 型單目倒置金相顯微鏡可用來鑒別和分析各種金屬材料的組織結(jié)構(gòu),以及對(duì)表面噴涂、裂紋現(xiàn)象進(jìn)行研究工作。廣泛應(yīng)用于工廠實(shí)驗(yàn)室和教學(xué)及科學(xué)領(lǐng)域。
詳細(xì)VM4800M 采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念,可以方便升級(jí)系統(tǒng),儀器配有偏光裝置可實(shí)現(xiàn)偏光觀察同時(shí)可選配暗裝置及微分干涉裝置。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別,電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學(xué)顆粒的分析研究。是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。
詳細(xì)VM4600M 三目正置大平臺(tái)金相顯微鏡配有大范圍移動(dòng)的載物臺(tái)、柯拉落射照明系統(tǒng)、長距平場物鏡、大視野目鏡,圖像清晰、襯度好,同時(shí)配有偏光裝置,可實(shí)現(xiàn)偏光觀察。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別,電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性
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