金相顯微鏡

按分類:: 全部金相顯微鏡體視顯微鏡測量顯微鏡生物顯微鏡熒光顯微鏡偏光顯微鏡比較顯微鏡數(shù)碼顯微鏡顯微鏡附件
固有觀察方式:: 全部偏光相襯微分干涉差明場暗場熒光
照明方式:: 全部透射反射透射+反射
光學(xué)系統(tǒng):: 全部有限遠(yuǎn) 無限遠(yuǎn)
觀察頭:: 全部單目雙目三目數(shù)字通道
結(jié)構(gòu):: 全部正置倒置
用途:: 全部工業(yè)生產(chǎn)/檢測/維修學(xué)校/教學(xué) 醫(yī)院/臨床家用/愛好者科研/實(shí)驗(yàn)室農(nóng)林業(yè)/養(yǎng)殖業(yè) 品質(zhì)檢驗(yàn)/鑒定

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DMS1000系列3D超景深數(shù)碼顯微系統(tǒng)

3D超景深數(shù)碼顯微鏡DMS1000是一款集電動(dòng)化、數(shù)碼化、智能化為一體，擁有全方位的觀測角度和多種照明方式，其更大的景深、更寬的視野以及更高的放大倍率，讓表面微觀形貌觀察和分析工作更快捷方便，搭載自主研發(fā)的圖像處理算法，能夠輕松應(yīng)對(duì)各種觀測應(yīng)用場景，確保圖像的清晰度和量測數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

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VM2400I編碼型倒置金相顯微鏡帶亮度記憶

三目倒置編碼金相顯微鏡VM2400I配置長距明場平場消色差物鏡與大視野平場目鏡，照明系統(tǒng)采用LED照明方式，視場照明均勻。主要用于鑒定和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，或用于觀察材料表面的某些特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等，簡單便于理解操作。應(yīng)用在工廠、實(shí)驗(yàn)室和教學(xué)及科學(xué)領(lǐng)域，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)研究的理想儀器。可觀察5公斤以下不規(guī)則樣品或者大體積高度樣品，可選配數(shù)碼相機(jī)成像、可與金相分析軟件配合根據(jù)試樣特性國標(biāo)出金相分析報(bào)告。

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CM120BD-AF研究級(jí)電動(dòng)12寸大平臺(tái)半導(dǎo)體芯片晶圓LCD檢查金相顯微鏡

研究級(jí)電動(dòng)12寸大平臺(tái)半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD，粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù)，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，其微分干涉效果可與進(jìn)口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。機(jī)器采用電動(dòng)轉(zhuǎn)換器，物理按鈕和軟件雙控，進(jìn)行遠(yuǎn)位數(shù)調(diào)節(jié)，12寸大工作平臺(tái)特別是針對(duì)線路板切片測量，晶圓檢測，金相材料，高分子材料等尺寸較大的樣器進(jìn)行分析檢測，本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測，在半導(dǎo)體和PCB檢測中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更加清晰。同時(shí)可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡，可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對(duì)比度，特別適合觀察導(dǎo)電粒子。

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CM120BD研究級(jí)12寸大平臺(tái)金相顯微鏡硅片半導(dǎo)體檢測

研究級(jí)12寸大平臺(tái)半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD，粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù)，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，其微分干涉效果可與進(jìn)口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。特別是針對(duì)線路板切片測量，晶圓檢測，金相材料，高分子材料等尺寸較大的樣器進(jìn)行分析檢測，本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測，在半導(dǎo)體和PCB檢測中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更加清晰。同時(shí)可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡，可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對(duì)比度，特別適合觀察導(dǎo)電粒子。

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TZ650D視頻連續(xù)變倍同軸光顯微鏡

TZ650D視頻連續(xù)變倍同軸光顯微鏡采用平行光路光學(xué)系統(tǒng)，使用點(diǎn)光源以確保光線的平行性，平行光路配合無限遠(yuǎn)平場物鏡有助于獲得清晰的顯微圖像。搭配高清4K 830萬像素相機(jī)60FPS輸出幀率，HDMI2.0、USB3.0、USB2.0、千兆網(wǎng)多種輸出方式，可測量拍照錄像等圖片分析。設(shè)備小巧便捷可以根據(jù)現(xiàn)場要求定制不同的觀測工作方式，適用于材料科學(xué)金屬和合金分析、聚合物研究；電子行業(yè)半導(dǎo)體制造、光學(xué)元件檢測；教育與研究

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VM3600I科研級(jí)倒置金相顯微鏡帶液晶屏幕

科研級(jí)三目倒置金相顯微鏡VM3600I采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)半復(fù)消色差光學(xué)系統(tǒng)60mm多功能、模塊化的設(shè)計(jì)理念，帶有偏光裝置，并可選配暗場裝置、DIC微分干涉裝置實(shí)現(xiàn)暗場和微分干涉等特殊觀察。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微鏡操作的防振要求。

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CM80BD-AF電動(dòng)研究級(jí)金相顯微鏡晶圓檢測半導(dǎo)體FPD檢查

電動(dòng)研究級(jí)材料檢測顯微鏡CM80BD-AF采用全新半復(fù)消技術(shù)，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，或根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。機(jī)器采用電動(dòng)轉(zhuǎn)換器，物理按鈕和軟件雙控，進(jìn)行遠(yuǎn)位數(shù)調(diào)節(jié)。8寸大平臺(tái)特別是針對(duì)大尺寸的半導(dǎo)體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時(shí)該產(chǎn)品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導(dǎo)體和PCB檢測中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更加清晰。360度旋轉(zhuǎn)式檢偏器可以在不移動(dòng)標(biāo)本的情況下，方便的觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài).同時(shí)可以在在正交偏光的基礎(chǔ)上，插入DlC棱鏡，可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對(duì)比度，特別適合觀察導(dǎo)電粒子。

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CM60BD研究級(jí)金相材料檢測顯微鏡

研究級(jí)材料檢測顯微鏡CM60BD采用全新半復(fù)消技術(shù)，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，或根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。配有6寸大平臺(tái)特別是針對(duì)大尺寸的半導(dǎo)體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時(shí)該產(chǎn)品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導(dǎo)體和PCB檢測中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更加清晰。360度旋轉(zhuǎn)式檢偏器可以在不移動(dòng)標(biāo)本的情況下，方便的觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài).同時(shí)可以在在正交偏光的基礎(chǔ)上，插入DlC棱鏡，可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對(duì)比度，特別適合觀察導(dǎo)電粒子。

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