金相顯微鏡

按分類:: 全部金相顯微鏡體視顯微鏡測量顯微鏡生物顯微鏡熒光顯微鏡偏光顯微鏡比較顯微鏡數(shù)碼顯微鏡顯微鏡附件
固有觀察方式:: 全部偏光相襯微分干涉差明場暗場熒光
照明方式:: 全部透射反射透射+反射
光學(xué)系統(tǒng):: 全部有限遠無限遠
觀察頭:: 全部單目雙目三目數(shù)字通道
結(jié)構(gòu):: 全部正置倒置
用途:: 全部工業(yè)生產(chǎn)/檢測/維修學(xué)校/教學(xué) 醫(yī)院/臨床家用/愛好者科研/實驗室農(nóng)林業(yè)/養(yǎng)殖業(yè) 品質(zhì)檢驗/鑒定

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CM120BD-AF研究級電動12寸大平臺半導(dǎo)體芯片晶圓LCD檢查金相顯微鏡

研究級電動12寸大平臺半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD，粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù)，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，其微分干涉效果可與進口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實際應(yīng)用進行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。機器采用電動轉(zhuǎn)換器，物理按鈕和軟件雙控，進行遠位數(shù)調(diào)節(jié)，12寸大工作平臺特別是針對線路板切片測量，晶圓檢測，金相材料，高分子材料等尺寸較大的樣器進行分析檢測，本機配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測，在半導(dǎo)體和PCB檢測中，可消除雜光，細節(jié)更加清晰。同時可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導(dǎo)電粒子。

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CM120BD研究級12寸大平臺金相顯微鏡硅片半導(dǎo)體檢測

研究級12寸大平臺半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD，粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù)，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，其微分干涉效果可與進口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實際應(yīng)用進行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。特別是針對線路板切片測量，晶圓檢測，金相材料，高分子材料等尺寸較大的樣器進行分析檢測，本機配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測，在半導(dǎo)體和PCB檢測中，可消除雜光，細節(jié)更加清晰。同時可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導(dǎo)電粒子。

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VM3600I科研級倒置金相顯微鏡帶液晶屏幕

科研級三目倒置金相顯微鏡VM3600I采用優(yōu)良的無限遠半復(fù)消色差光學(xué)系統(tǒng)60mm多功能、模塊化的設(shè)計理念，帶有偏光裝置，并可選配暗場裝置、DIC微分干涉裝置實現(xiàn)暗場和微分干涉等特殊觀察。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微鏡操作的防振要求。

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BJX-2000便攜式現(xiàn)場金相觀察顯微鏡

BJX-2000現(xiàn)場金相顯微鏡，適用于大型工件的現(xiàn)場金相檢驗與失效分析。不用切割取樣，直接在工件上研磨制樣、觀察、照像。對工件尤其是成品件不產(chǎn)生損傷。提高金屬檢驗效率、完善工廠產(chǎn)品質(zhì)量控制。同時也可用于實驗室金相觀察。

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VM500C便攜金相顯微鏡

VM500C是新型的便攜式金相顯微鏡。它在功能上比原有的便攜式金相顯微鏡增加了物鏡轉(zhuǎn)換器和微調(diào)機構(gòu)。儀器機身機構(gòu)重心穩(wěn)定，確保顯微鏡的精度像質(zhì)清晰，視場明亮均勻，觀察合適。儀器的上部目鏡筒也可安裝數(shù)碼相機、CCD 攝像頭、數(shù)字攝像頭進行金相圖片的采集。

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VM500P便攜金相顯微鏡

VM500P便攜金相顯微鏡可用于現(xiàn)場鑒定無法制作金相試樣時的金屬及合金的組織結(jié)構(gòu)，廣泛應(yīng)用于現(xiàn)場對金屬材料作金相分析及大型金屬工件的金相組織檢查。

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VM2200M 三目電腦型正置金相顯微鏡

VM2200M適用于對不透明物體進行顯微觀察，本儀器配置落射照明器、長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)、大視野目鏡和內(nèi)置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，操作方便等特點，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。

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VM5000M 工業(yè)檢測顯微鏡

VM5000M適用于對工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進行顯微觀察。采用優(yōu)良的無限遠光學(xué)系統(tǒng)。儀器配有偏光裝置可實現(xiàn)普通與偏光觀察的自由切換，模塊化功能設(shè)計理念，可方便升級系統(tǒng)進行暗場觀察等功能。

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VM1000I 倒置金相顯微鏡

VM1000I 型單目倒置金相顯微鏡可用來鑒別和分析各種金屬材料的組織結(jié)構(gòu)，以及對表面噴涂、裂紋現(xiàn)象進行研究工作。廣泛應(yīng)用于工廠實驗室和教學(xué)及科學(xué)領(lǐng)域。

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VM4800M 大平臺金相顯微鏡

VM4800M 采用優(yōu)良的無限遠光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計理念，可以方便升級系統(tǒng)，儀器配有偏光裝置可實現(xiàn)偏光觀察同時可選配暗裝置及微分干涉裝置。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別，電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學(xué)顆粒的分析研究。是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。

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VM4600M 大平臺金相顯微鏡

VM4600M 三目正置大平臺金相顯微鏡配有大范圍移動的載物臺、柯拉落射照明系統(tǒng)、長距平場物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時配有偏光裝置，可實現(xiàn)偏光觀察。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別，電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性

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VM4000M 透反射型三目金相顯微鏡

VM4000M采用優(yōu)質(zhì)的無限遠光路系統(tǒng)，配置了落射與透射照明系統(tǒng)、無限遠長距平場消色差物鏡、內(nèi)置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點，能分別對不透明物體或透明物體進行顯微觀察，尤其適合觀察金相組織分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織觀察材料表面。

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