- 歡迎索取產(chǎn)品冊
- 微視界品牌直供
- 4000-135-686
查找屬于您的產(chǎn)品
- 按分類:
- 全部 公安刑偵設(shè)備 光譜儀 原子力顯微鏡 珠寶寶石鑒定專用
VGM870A專業(yè)旋臂式寶石顯微鏡6.7-45X珠寶雕刻觀察
VGM870型三目連續(xù)變倍寶石顯微鏡是對寶石進行觀察\鑒定的專用顯微鏡，其采用連續(xù)變倍光學成像系統(tǒng)與適合珠寶檢測的專業(yè)設(shè)計，適合用于各類鉆石、晶體、寶石等珠寶鑒賞的需求。該顯微鏡使用高亮度LED光纖光源和暗場照明，均勻的熒光燈面光源，可觀察到高清晰和高分辨率的立體圖像，同時具有較大的景深和很強的立體效果，機身設(shè)計堅固耐用，精密可靠，外型美觀，操作簡便。
詳細
VGM750A高清專業(yè)級寶石顯微鏡連續(xù)變倍
VGM750型三目連續(xù)變倍寶石顯微鏡是對寶石進行觀察\鑒定的專用顯微鏡，其采用連續(xù)變倍光學成像系統(tǒng)與適合珠寶檢測的專業(yè)設(shè)計，適合用于各類鉆石、晶體、寶石等珠寶鑒賞的需求。該顯微鏡使用高變倍比1:8.5的光路系統(tǒng)，高亮度LED光纖光源和暗場照明，可觀察到高清晰和高分辨率的立體圖像，同時具有較大的景深和很強的立體效果，機身設(shè)計堅固耐用，精密可靠，外型美觀，操作簡便。
詳細
VGM740A三目連續(xù)變倍寶石顯微鏡
VGM740型三目連續(xù)變倍寶石顯微鏡是對寶石進行觀察\鑒定的專用顯微鏡，其采用連續(xù)變倍光學成像系統(tǒng)與適合珠寶檢測的專業(yè)設(shè)計，適合用于各類鉆石、晶體、寶石等珠寶鑒賞的需求。該顯微鏡使用高亮度LED點光源和暗場照明，均勻的熒光燈面光源，可觀察到高清晰和高分辨率的立體圖像，同時具有較大的景深和很強的立體效果，機身設(shè)計堅固耐用，精密可靠，外型美觀，操作簡便。
詳細
T-AFM(Nanoview 800)教學型原子力顯微鏡
FM-Nanoview 800(T-AFM)教學型原子力顯微鏡采用小型化及可拆卸化設(shè)計，非常便于攜帶及教學，激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定，抗干擾性強，精密探針定位裝置，激光光斑對準調(diào)節(jié)非常簡便，單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描，馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品.
詳細
T-STM教學型便攜掃描隧道顯微鏡
FM-NanoviewT-STM教學型掃描隧道顯微鏡采用小型化及可拆卸化設(shè)計，非常便于攜帶及課堂教學；?檢測頭和樣品掃描臺集成一體，結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定，抗干擾性強；單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描
詳細
LSCL-AFM組合式掃描原子力顯微鏡(閉環(huán)掃描臺)
LSCL-AFM組合式掃描原子力顯微鏡是國內(nèi)首家實現(xiàn)探針和樣品組合式移動掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡，三軸獨立式掃描，XYZ互不影響，非常適合三維材料及形貌檢測；
詳細
EC-AFM環(huán)境控制型原子力顯微鏡（光學金相顯微鏡原子力一體機）
FM-Nanoview EC-AFM環(huán)境控制型原子力顯微鏡同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時工作，互不影響,可同時在普通空氣環(huán)境、液體環(huán)境、溫度控制環(huán)境、惰性氣體控制環(huán)境下工作,高倍光學定位系統(tǒng)，實現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位
詳細
RM8000顯微鏡拉曼光譜儀一體機,拉曼檢測平臺
FM-RM8000將顯微鏡及拉曼光譜儀兩者的優(yōu)點結(jié)合。顯微拉曼檢測平臺使得“所見即所測”成為可能，可視化的精確定位拉曼檢測平臺，使得觀測者可以檢測樣品上不同表面狀態(tài)的拉曼信號，并可在計算機上同步顯示所檢測位置的微區(qū)形態(tài)，極大便利了拉曼微區(qū)檢測。
詳細
RM5000系列雙波長便攜式激光拉曼光譜儀
VM-RM5000系列便攜式拉曼光譜儀，內(nèi)部集中了兩種波長的激光光源，是一種針對小樣品的分析儀器。其特點是對樣品沒有損傷的，非接觸式的，無需樣品的特殊準備即可測試。
詳細
RM9000顯微拉曼檢測平臺,顯微鏡拉曼光譜儀一體機
FM-RM9000將顯微鏡及拉曼光譜儀兩者的優(yōu)點結(jié)合。顯微拉曼檢測平臺使得“所見即所測”成為可能，可視化的精確定位拉曼檢測平臺，使得觀測者可以檢測樣品上不同表面狀態(tài)的拉曼信號，并可在計算機上同步顯示所檢測位置的微區(qū)形態(tài)，極大便利了拉曼微區(qū)檢測。
詳細
XVC-2/XVC-5型圓柱面痕跡展開攝影儀,指紋痕跡提取儀
XVC-2型圓柱面痕跡展開攝影儀可對平面痕跡、柱面痕跡展平、遺留在柱形物體上內(nèi)外兩面的指紋痕跡等提取、采集和存檔；配有專業(yè)軟件可對展平圖像進行測量、標注、靜態(tài)圖像比對和靜動態(tài)圖像比對等。
詳細